上海长方光学仪器有限公司
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      X-4 显微熔点仪
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一、仪器用途
    物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中,熔点测定是辨认该物质本性的基本手段,也是纯度测定的重要方法之一。 目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。
    本仪器可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等;也可用药典规定的毛细管方法测其熔点,尤其对深色样品,如医药中间体、颜料、橡胶促进剂等的熔点,并能自始自终观察到其熔化的全过程。

显微热分析仪
 X-4 显微熔点仪

二、仪器特点
  1. 本仪器使用毛细管法进行测量。专利申请号:01132251 9
  2. 根据特殊要求,本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。
  3. 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
  4. 本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构,简单可靠,使用方便。
  5. 升温速率连续可调。我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值,在第一次使用时记录下1℃/分的
     升温速率时的波段开关和电位器的编号,则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意(1)
     室温的影响;在同样波段开关和电位器的编号下,室温越低,升温速率越慢。(2)电子元件的影响:电子
     元件的老化,升温速率一定时,其电位器的编号会有所变化,只要进行微调即可。编号越大,升温速率越快。
三、主要技术参数
   1.显微镜采用4倍物镜,10倍目镜
   2.测量范围:室温∽320℃
   3.测量精密度:室温∽200℃的误差±1℃
     200℃∽320℃的误差±2℃
   4.电源220V   50HZ    功率 80W
 
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